PlateLyzer Elite是一(yī)台專爲可視化生(shēng)物(wù)芯片所開(kāi)發的專業分(fēn)析設備，可掃描 96 孔闆、載玻片、薄膜和定制化生(shēng)物(wù)傳感器等。

功能特色：
精密取像控制,機身小(xiǎo)巧便攜
高精度、高品質成像
高通量檢測，适用于半定量，定量分(fēn)析（配套生(shēng)物(wù)芯片）
穿透式、反射式兩種取像模式
可定制開(kāi)發

陣列掃描成像應用：
配套生(shēng)物(wù)芯片及專業的MiELISA分(fēn)析軟件可以實現多靶标高通量，快速定量分(fēn)析檢測：
    （1） 分(fēn)析速度：在150s内完成檢測；
    （2） 檢測通量：可對90個不同樣本進行半定量，定量分(fēn)析；
    （3） 多靶标分(fēn)析：每個樣本可檢測多種不同的檢測項目；
    （4） 每種檢測項目獨立定量，無相互幹擾；
    （5） 使用便捷：自動生(shēng)成檢測報告，無需繁瑣的數據處理；
    （6） 自動化：分(fēn)析過程中(zhōng)，MIELISA軟件可以準确自動識别生(shēng)物(wù)芯片上多達4000個微米級陣列點，并且自動計算其信号值；
    （7） MiELISA具有自動校正功能，可識别不完整的陣列點并進行校正；同時具有漏點檢測功能，避免因芯片漏點帶來檢測誤差。